[아시아경제 이영철 기자]한국기계연구원(원장 이상천)이 개발한 나노측정기술이 국제전기기술위원회(IEC)의 국제표준기술로 채택됐다.

우리나라의 나노측정기술이 국제표준으로 공표된 건 이번이 처음이다. 나노측정 원천기술의 국제표준으로 우리나라가 세계 나노기술 기반확립을 이끄는 계기가 마련됐다.

한국기계연구원은 IEC가 이학주 박사팀이 개발한 나노측정기술 ‘띠굽힘시험법’을 미세전자기계시스템(MEMS)분야 국제표준으로 정하고 최근 홈페이지(http://www.iec.ch)에 공표했다고 31일 밝혔다.

IEC 국제표준명은 ‘띠굽힘 시험법을 이용한 박막의 인장물성 측정’(IEC 62047-8 Ed. 1.0)로 오는 4월 책으로 나온다.

나노측정기술은 나노크기 소재의 기계적, 전자기적, 광학 물성 등을 측정하고 평가하는 기술로 나노공정기술을 실제 제품생산에 적용할 때 꼭 치러야하는 기술이다.

연구책임자인 이학주 박사는 “지금까지 나노구조물 측정이 어려워 마이크로·나노구조물 상용화에 걸림돌이 돼왔으나 이번 국제표준 채택으로 신뢰성 문제 해결은 물론 우리나라가 13조5000억원 규모의 세계 나노측정기술산업을 이끄는 계가가 됐다”고 말했다.

이영철 기자 panpanyz@
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